美国博曼台式半导体膜厚仪是一款设计紧凑灵活、功能强大的膜厚仪，可以满足各个行业中对质量保证和过程控制的要求。
美国博曼台式半导体膜厚仪可分析的样品种类繁多，包括固体、液体、粉末、糊状物、薄膜等，检测从ppm级至高达百分含量的浓度范围，覆盖元素周期表中从AL13到U92间的元素。
它的优势有:
1.高性能、高精度、长期稳定性、快速精确的分析带来生产成本最优化，精确测定元素厚度，优化的性能可满足广泛的元素测量.
2.坚固耐用的设计：可靠近生产线或在实验室操作，生产人员易于使用.
3.简单的校准调试：在没有标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果，方法建立只需几分钟，我们提供认证标准片以确保最佳精确度（A2LA 和 ISO/IEC17025），预置了多种校准参数.
美国博曼台式半导体膜厚仪特别适合于小的镀层测量，如端子，连接器，细小的金线，在五金，汽车配件．线路板．卫浴，等行业．也有杰出的表现．可测量．单层．双层，合金层等多种镀层.
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